芯片EMC的電路設(shè)計(jì)和測(cè)試

芯片EMC的電路設(shè)計(jì)和測(cè)試
電磁兼容測(cè)試的電路設(shè)計(jì)和器件選擇方面還是非常重視的，一般在一個(gè)新的項(xiàng)目開發(fā)之前就要做好這方面的準(zhǔn)備。所謂EMC就是：設(shè)備或體系在其電磁環(huán)境中能正常作業(yè)，且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁打擾的才能。

EMC測(cè)驗(yàn)包含兩大方面內(nèi)容：對(duì)其向外界發(fā)送的電磁打擾強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)驗(yàn)，以便承認(rèn)是否契合有關(guān)規(guī)范規(guī)則的約束值要求；對(duì)其在規(guī)則電磁打擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境條件下進(jìn)行敏感度測(cè)驗(yàn)，以便承認(rèn)是否契合有關(guān)規(guī)范規(guī)則的抗擾度要求。關(guān)于從事單片機(jī)使用體系規(guī)劃的工程技術(shù)人員來說，把握必定的EMC測(cè)驗(yàn)技術(shù)是十分必要的。能否以較低的成本得到EMC認(rèn)可，減少產(chǎn)品因外界原因帶來的成本和重量，在正確選擇器件以及*電路設(shè)計(jì)方面是非常重要的一部分。

這些電路設(shè)計(jì)不僅可以提高完整的數(shù)字信號(hào)，還可以減少重復(fù)使用硬件的頻率，終將有利于新研發(fā)的產(chǎn)品達(dá)到技術(shù)要求盡快投入到市場(chǎng)中去。

下面先來看下單片機(jī)系統(tǒng)EMC的測(cè)試，要確保測(cè)試結(jié)果的相對(duì)穩(wěn)定可靠，對(duì)測(cè)試環(huán)境的要求也是非常高的，在對(duì)電磁兼容測(cè)試時(shí)，選擇的測(cè)試場(chǎng)地要有室外的開闊場(chǎng)地和室內(nèi)的屏蔽室等等。

然后就是測(cè)試設(shè)備的選擇，電磁兼容測(cè)試的設(shè)備可分為兩類，一類室電磁干擾測(cè)試設(shè)備，當(dāng)這種設(shè)備連接上合適的傳感器，就能減少對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾；另一種是在電磁敏感度測(cè)量，設(shè)備模擬不同干擾源，通過適當(dāng)?shù)鸟詈?去耦網(wǎng)絡(luò)、傳感器或天線，施加于各類被測(cè)設(shè)備，用作敏感度或干擾度測(cè)量。

后就要根據(jù)電磁兼容性測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，來尋找測(cè)量的方法，測(cè)量方法歸納起來可分為4類；傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試、輻射發(fā)射測(cè)試、傳導(dǎo)敏感度（抗擾度）測(cè)試和輻射敏感度（抗擾度）測(cè)試。